介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  型號:M166800

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀STD-A，顯示電容、頻率等中間值，需代入公式計算出介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。檢測固體材料。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  型號:M166800

STD-A介電常數(shù)測試儀
一、概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。
二、儀器的技術(shù)指標
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差
頻率范圍10kHz～10MHz
固有誤差≤5％±滿度值的2%
工作誤差≤7％±滿度值的2%
頻率范圍10MHz～70MHz
固有誤差≤6％±滿度值的2%
工作誤差≤8％±滿度值的2%
  2．電感測量范圍：1nH～8.4H
3．電容測量：
直接測量范圍1～520p
主電容調(diào)節(jié)范圍30～550pF
準確度100pF以下±1pF；
100pF以上±1%
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4．信號源頻率覆蓋范圍：
頻率范圍10kHz～70MHz
CH110～99.9999kHz
CH2100～999.999kHz
CH31～9.99999MHz
CH410～70MHz
頻率指示誤差3×10-5±1個字
5．Q合格指示預(yù)置功能：預(yù)置范圍：5～1000
  6．Q表正常工作條件
a.  環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．消耗功率：約25W；
8、選配液體杯，可做液體材料的檢測。
9．樣品尺寸：固體：材料測量直徑 Φ38mm；厚度可調(diào) < 15mm ；
儀器配置：含STD-A測試主機1臺，樣品夾具1套，電感1組（9個）,如需選配液體杯，費用另計。